帶推力試驗(yàn)探針

更新時(shí)間：2021-11-23

簡要描述：

帶推力試驗(yàn)探針:符合GB/T2099.1-2021標(biāo)準(zhǔn)第10.5章節(jié)及圖9、圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，一套2件

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帶推力試驗(yàn)探針

產(chǎn)品概述：

本套探針分別符合GB/T2099.1-2021標(biāo)準(zhǔn)第10.5章節(jié)及圖9、圖 10、IEC60884-1:2013圖9及圖10要求，20N推力探針主要用于檢驗(yàn)保護(hù)門內(nèi)的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用于檢驗(yàn)保護(hù)門內(nèi)的帶電部件及有加強(qiáng)保護(hù)插座的帶電部件是否被觸及。

帶推力試驗(yàn)探針

主要技術(shù)參數(shù)：

20N推力試驗(yàn)探針：探針部分3+0.03 Ф1+0.015，Ф80±0.5，端部倒圓R0.2±0.05，20N推力；

1N推力試驗(yàn)探針：探針部分Φ1+0.015，Ф80±0.5，端部倒圓R0.05，1N推力。

符合GB/T2099.1-2021標(biāo)準(zhǔn)第10.5章節(jié)及圖9、圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，一套2件

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